因業務調整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

瓷磚成分檢測體系包含五大核心模塊：

化學成分分析：測定SiO₂（45-75%）、Al₂O₃（15-25%）、Fe₂O₃（≤1.5%）等主要氧化物含量

放射性核素檢測：依據GB 6566測定鐳-226（≤35 Bq/kg）、釷-232（≤35 Bq/kg）、鉀-40（≤400 Bq/kg）活度指數

物理性能測試：包含吸水率（Ⅰ類≤0.5%、Ⅲ類＞10%）、破壞強度（≥1300N）、線性熱膨脹系數（6.0×10^-6/℃）等指標

微觀結構分析：通過SEM-EDS觀測晶相結構（莫來石相占比≥60%）、氣孔率（≤0.5%）及晶界分布特征

有害物質限量：鉛（≤75mg/kg）、鎘（≤50mg/kg）等重金屬可溶出量符合GB 31604.1標準

檢測范圍

檢測方法

X射線熒光光譜法（XRF）

采用波長色散型光譜儀（WDXRF），依據GB/T 30707-2014標準對樣品進行無損快速分析。測試條件設定為Rh靶材、50kV管電壓、60mA電流，通過FP法計算元素氧化物含量。

伽馬能譜法

使用HPGe探測器配合鉛屏蔽室進行放射性核素測定。樣品經粉碎過篩（粒徑＜0.16mm）后裝入Marinelli杯，累積測量時間≥8h，參照EJ/T 1117-2000進行數據校正。

電感耦合等離子體發射光譜法（ICP-OES）

按GB/T 23991-2009制備酸性浸提液（0.07mol/L HCl），采用徑向觀測模式測定Cd、Pb等重金屬元素。儀器參數設定為RF功率1350W，霧化氣流速0.7L/min。

材料試驗系統法

使用電子萬能試驗機執行三點彎曲試驗。依據ISO 10545-4:2019設定跨距L=200mm±1mm，加載速率1mm/min±0.2mm/min至試樣斷裂。

掃描電子顯微鏡法（SEM）

樣品經噴金處理后置于場發射電鏡觀察斷面形貌。工作電壓15kV，放大倍數5000×～20000×，配合能譜儀進行微區成分分析。

檢測儀器

X射線熒光光譜儀

型號例：Rigaku ZSX Primus IV

檢出限：1ppm～100%

符合標準：JIS K 0119-2017

高純鍺伽馬能譜儀

型號例：Canberra GC4020

能量分辨率：≤1.8keV@1332keV

符合標準：GB/T 11713-2015

電感耦合等離子體光譜儀

型號例：PerkinElmer Avio 500

線性范圍：0.001～1000mg/L

符合標準：ISO 11885:2007

電子萬能試驗機

型號例：Instron 5967

載荷容量：50kN

精度等級：0.5級

符合標準：ASTM E4-21

場發射掃描電鏡

型號例：Hitachi SU5000

分辨率：1.0nm@15kV

放大倍數：20×～800,000×

符合標準：ISO 16700:2016

>激光粒度分析儀> <

>型號例：Malvern Mastersizer3000<

> 測量范圍：0.01～3500μm<

> 符合標準：ISO13320:2020>

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關數據，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件